Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV)

O que é o MEV?

O MEV tem como função a ampliação de imagens em até 100.000 vezes por meio da incidência de  um feixe de elétrons sobre a amostra, gerando imagens com excelente resolução. Seu funcionamento consiste em utilizar um feixe de elétrons de pequeno diâmetro para varrer a superfície da amostra, ponto a ponto, produzindo imagens com caráter tridimensional.

Para que serve o MEV?

Este equipamento pode fornecer rapidamente informações sobre a morfologia e identificação de elementos químicos de uma amostra sólida, sendo aplicado em diversas áreas como biologia, odontologia, farmácia, engenharia, química, metalurgia, física, medicina e geologia.

Importância dos Resultados obtidos no MEV .

Os resultados obtidos através de análise do MEV são imagens, de alta resolução, relacionadas a morfologia da amostra que permite observar e analisar as características microestruturais de objetos sólidos. Devido sua versatilidade é amplamente empregado em materiais poliméricos, metálicos, cerâmicos, nanofibras e em materiais biológicos.

MEV em Materiais poliméricos:

É usado para estudar as superfícies dos materiais poliméricos tais como, plásticos, filmes, membranas, fibras e compósitos. Em análises envolvendo materiais poliméricos a preparação da amostra é de extrema importância para a obtenção de bons resultados. Essa preparação consiste em polimento de superfícies, ultramicrotomia ( visa obtenção de seções ultrafinas de materiais poliméricos sendo utilizada para amostras muito pequenas e de difícil manuseio), tingimento,  fratura, ataque químico e réplica. Após a preparação a amostra é então fixa em uma superfície condutiva e submetida a uma etapa de metalização antes de ser analisada.

MEV em Materiais metálicos:

No caso desses materiais a microscopia eletrônica de varredura é um dos principais aparelhos utilizados para caracterização, pelo qual são obtidas informações importantes a respeito da estrutura do material analisado. Assim, é preciso que haja um prévio preparo das amostras para que o resultado seja mais confiável. O preparo das amostras metálicas consiste em seleção, corte, embutimento, quando necessário, lixamento, polimento e ataque químico.  Os materiais metálicos e semicondutores apresentam um enorme compatibilidade com o MEV, uma vez que apresentam uma grande resistência ao feixe de elétrons tornando adequada a sua observação.

MEV em Materiais cerâmicos:

Tendo em vista a análise de materiais cerâmicos, nesse caso o MEV é utilizado para analisar a superfície e a composição interna da amostra estudada, identificando a existência de poros, irregularidades, trincas e demais fatores microestruturais que podem aparecer durante o processo de fabricação da amostra. A preparação consiste na sinterização e, em alguns casos, na fratura da amostra na região em que se deseja fazer a análise.

Qual a Importância do MEV para indústria?

A técnica de microscopia eletrônica de varredura é usada tanto no âmbito da pesquisa quanto em aplicações industriais. Possui aplicação na área agrícola com o objetivo de caracterizar diferentes tipos de materiais presente em amostras de solos e rochas . É também utilizada no estudo de análise de falhas uma vez que apresenta alta resolução, profundidade de foco e permite o mapeamento químico da superfície da amostra. Além disso possui aplicação na ciência forense, para analisar e comparar evidências, na ciência de materiais através de análise de metais, polímeros e cerâmicos, nas ciências biológica através de análise de insetos, animais e vegetais e na medicina para o tratamento de doenças.

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REFERÊNCIAS

1 – MACHADO, G.; CARMEM, I. G.; DEDAVID, B. A. Microscopia Eletrônica de Varredura: Aplicações e preparação de amostras. ed. Rio Grande do Sul: Editora EDIPUCRS, 2007.

2- FERREIRA, Y, C. Caracterização da microestrutura e das propriedades mecânicas de cerâmicas de zircônia parcialmente nanoestruturadas em função da quantidade de Nb2O5 para aplicações especiais. Instituto nacional de pesquisas espaciais. São José dos Campos, 2010. 42p.

3 – CHINAGLIA, C.P; CORREA, C. A. Análise de falhas em materiais através de técnicas avançadas de microscopia.  Centro de Caracterização e Desenvolvimento de Materiais, Universidade Federal de São São Carlos, SP.

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